XPV-400型   透反射偏光显微镜

一、仪器的用途：

      XPV-400型透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，如：化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验。

二、仪器特点：

      透反射偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机图像处理技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

三、技术参数

 1.目镜

   2.物镜

   3.放大倍数：40X 100X 400X 600X      系统放大倍数：40X-2600X

4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调

5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路

6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调

7.补偿器：λ片（Ф18mm，一级红，光程差551nm）

          λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）

          石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级）

8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm

9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调）

10.防霉：*的防霉系统

四、系统组成

 电脑型高精度偏光显微镜（XPV-400E）： 1、显微镜 2、适配镜 3、摄像器（CCD）

 4、A/D（图像采集） 5、计算机

 数码相机型高精度偏光显微镜（XPV-400Z）：1、显微镜 2、适配镜 3、数码相机

五、选购件

     1、高像素成像系统      2.偏光显微镜分析软件      3.物镜：20X