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YP-150I 照度范围：30mmφ
YP-250I 照度范围：60mmφ
超精密平面检测的理想选择！通过惊人的照明，可以检测小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I"是一种用于显微观察的照明装置，用于检测
最终成品表面上的各种缺陷，如异物、划痕、抛光不均匀、雾度、滑移等，是半导体加工过程中劳动强度的一种。晶圆和液晶板
另外，由于采用卤素灯作为光源，色温高，
光照不均匀的情况很少，光照***稳定锐利。
姊妹机“YP-250I"也可用于 8 英寸。
光源采用卤素灯
■ 可以将样品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 热量的影响降低到传统铝镜的1/3
■ 高照度观察和低照度观察可一键切换
请用于超精密平面检测！
