DPV－2000是一种开创性的光学探测设备，它可对热喷涂焰流中的单个粒子的特征进行在线测量。只须5分钟，你就可得到粒子的以下信息：
 
*温度测量，1000℃～4000℃
*速度测量，1～1200m/s
*粒径测量，10μm～300μm
*流量的测量　
*根据不同的喷涂条件，每秒钟可分析高达4000个颗粒
*温度、尺寸和速度的分布直方图，并附带有平均值和标准差
*自动调中，且探头运动和朿流图形测绘由计算机控制
 
主要优点：
*测量飞行中单个粒子的特征（不仅仅是平均值）
*T，V和D的同时测量
*依据测试结果，有可能实施反馈调整措施
*由于节约了试样和报废工件，成本大幅下降
 
该设备zui初是用工艺观察、建模和开发，但DPV－2000经过改进已经演变成生产现场（在航空和汽车工业）的监控工具。DPV－2000装备了与机械手动作同步的全自动测量程序，从而使操作者人为干预zui低化。
 

由于有些太冷（或太小）的颗粒发射出的红外线能量不足，标准配置的DPV－2000探测不到。而CPS－2000是开发用于检测这类粒子的。总的原理是将照射光计入DPV－2000的检测量，这样检测的就是粒子散射的光线（而不是幅射光）。冷粒子的速度，流量和大小就可被此系统所测量。当然，这种形式不能测量粒子温度。
 
CPS-2000采用一个高能、固态激光二极管单元，且调整在DPV高温计的一个波长上。单色IR光被导入测量，通过光纤耦合到一个精心设计的波束整形器，以获得非常*的光（粒径大小的测量精度与光束的均匀性密切相关）。
 
此系统可检测出小到10μm的陶瓷颗粒，和小到6μm的金属颗粒。CPS－2000典型应用是：
 
*评估未被正确加热的喷涂材料所占的比例
*确定进入喷涂焰流中的冷颗粒的位置
*监控喷砂过程
*其他