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玉崎现货 NITTOSEIKO日东精工 低电阻率计
玉崎现货 NITTOSEIKO日东精工 低电阻率计
Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。
随着科学技术的发展，在研发、生产技术、质量控制等领域，越来越需要能够轻松、快速、日益严格、高精度地管理材料。其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性质的指标。 Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。
该装置采用符合JIS K 7194的测量方法，可以使用各种探头测量导电塑料、ITO薄膜和硅晶片等多种材料。
与传统的4端子法不同，无需为测量对象准备电极，使用本公司提供的各种4点探头即可一键测量电阻率。
■导电塑料、电磁屏蔽材料、硅片、导电橡胶、
导电涂料、浆料、油墨、金属薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
可以随时随地以高精度测量低电阻区域的表面电阻率、体积电阻率（比电阻）和电导率。
与Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，测量范围从 10 -4扩大至 10 7 Ω
通过改变电流方向即可测量硅片
恒定电流可变功能（可使用微小电流进行样品测量）
可输出2000个测量结果至USB存储器
通过触摸屏提高操作性
名称/产品简称GX 用 ASP 探头 RMH110
，GX Ⅱ用 GP ASR 探头 RMH501
规格
符合 JIS K 7194
引脚间距：5 毫米
引脚尖：0.37R x 4 件
弹簧压力：220 克/件
应用特性包括
导电塑料、导电涂料、薄膜等。 标准探头兼容 JIS K7194。
名称/产品缩写
ESP 探头 RMH114 for GX,GP
ESR 探头
RMH502 for GXⅡ
规格
引脚间：5mm
引脚尖：φ2mm x 4
弹簧压力：230g/件
应用
异质样品，如混合有碳粉、金属粉末等的导电塑料（特别是注塑产品）
特点
引脚尖直径为 2 mm 由于表面形状，施加的电流容易流动。
名称/产品简称
GX用LSP探头 RMH116 ，GXⅡ用GP
LSR探头
RMH503
规格
引脚间距：5mm
引脚尖：球 D2mm x 4 件弹簧压力： 140g
/件
应用
导电橡胶和薄膜等 软样品 很难卡在橡胶中。
名称/产品代码
PSP 探头 RMH112 for GX,GP
PSR 探头
RMH504 for GXⅡ
规格
引脚间距：1.5mm引脚尖
：0.26R x 4
弹簧压力：95g/个
应用
薄膜、小样品、狭窄空间
特点
薄膜用标准探针，引脚很细，引脚之间的距离为 1.5 mm 。
名称/产品简称
GX用QP2探头 RMH119 ，GXⅡ用GP
QR探头
RMH505
规格
针脚间：1.5mm
针尖：0.26R x 4
弹簧压力：95g/个
应用 方形，特别适用于
小样品和狭窄空间。电阻值约为4针串联引脚的一半，手持式无法支持校正系数，因此不建议使用。
名称/产品简称
GX用BSP探头 RMH111 ，GXⅡ用GP
BSR探头
RMH506
规格
： 引脚间距：2.5mm
引脚尖：0.37R x 4
弹簧压力：170g/引脚
应用：
两个远点之间的测量、前后表面之间的测量（层间电阻）、
4 个
引脚分为 2 个，像测试仪一样测量右手拿着一张，左手拿着一张。至于主机，GXII 更方便，因为可以使用脚踏开关。
注）无法测量电阻率。
名称/产品简称
GX用NSCP探头 RMJ202 ，GXⅡ用GP
NSCR探头
RMH507
规格
： 引脚间距：1.0mm
引脚尖：0.04R x 4 件
弹簧压力：250g/件仅
适用于硅片，适用于
表面坚硬光滑的样品，如陶瓷 引脚材料为碳化钨，尖锋利，坚固弹簧压力。
名称/产品缩写
TFP 探头
RMJ217 for GX（已售完）
规格
引脚间：1.0mm
引脚尖：0.15R x 4
弹簧压力：50g/个
应用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜
名称/产品代码
AP2 探头
RMH333 for GX,GP
AR 探头
RMH508 for GXⅡ
规格
引脚间：10mm
引脚尖φ2 x 2
弹簧压力：230g/引脚
应用
用于 表面处理钢板和镁合金等化学转化涂层
使用
2 端子法进行测量，包括接触电阻，导致电阻值较高。由于电阻值不正确，我们不会将其转换为电阻率。主要用于定性评价。
注）无法测量电阻率。
名称/产品简称
GX 用 BP 探头 RMH118 ，GX Ⅱ用 GP
BR 探头
RMH509
规格
针尖：φ2 x 2
弹簧压力：200g/针
用途
2 点探头
用于表面处理钢板和镁合金等化学转化涂层上两个远点之间的测量 用于使用 2 端子
法 注）无法测量电阻率。
